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小麦作物株高测量仪

描述:小麦作物株高测量仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2024-06-04
  • 访问量

    298
详细介绍
品牌优云谱产地类别国产

优云谱小麦作物株高测量仪

小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成,穗数是小麦产量重要构成要素之一,快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。

可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。

软件集合多方面功能为一体,一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。

优云谱小麦作物株高测量仪应用广泛:

1、小麦亩穗数检测合适时期:小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。

2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期:

3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。

4、千粒重测量时期:室内考种时期。

5、小麦株高测量时期:各个生育时期。

幼苗期:

(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);

(2)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。

苗期:

伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);

真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);

(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。

拔节期:

(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);

(2)真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);

(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。

灌浆期:从植株基部(或分蘖节处)量到穗顶(不包括芒)的距离则为株高。




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