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  • YP-XM小麦表型测量仪
    YP-XM小麦表型测量仪

    小麦表型测量仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。

    更新时间:2024-03-11型号:YP-XM浏览量:375
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