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型号:YP-XM04

麦穗形态测量仪

描述:麦穗形态测量仪集成图像识别与深度学习技术,为作物研究提供多维度数据支持。主要用于快速、准确地测量单位面积内的小麦穗数。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2025-04-29
  • 访问量

    29
详细介绍
品牌优云谱产地类别国产

一、麦穗形态测量仪产品简介

小麦智能测量系统集成图像识别与深度学习技术,为作物研究提供多维度数据支持。该系统包含四大核心模块:

1)亩穗数测量仪通过多点多维分析,精准测算亩穗数、理论产量及千粒重,助力品种筛选与基因研究;

2)株高测量仪依据不同生长期标准(幼苗期/拔节期/灌浆期等),智能区分伪茎高度、真茎高度及植株全长;

3)夹角茎粗测量仪适配小麦、水稻等多作物,快速获取茎秆形态参数;

4)麦穗形态测定仪依托手机视觉技术,通过AI图像矫正算法一键获取穗长、小穗数等关键指标。全系统实现田间快速取样、批量分析及数据互联,为育种优化、产量预测和功能基因解析提供智能化解决方案。

二、麦穗形态测量仪应用范围

1、小麦亩穗数检测合适时期: 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。

2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期。

3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。

4、千粒重测量时期: 室内考种时期。

5、小麦株高测量时期: 各个生育时期。

三、技术参数

1. 小麦亩穗数

(1) 测量范围:1000mm*1000mm*(610~1120)mm
       1000mm*1000mm*(1010~1920)mm

(2) 测量误差:≤±3%

2. 麦穗形态

(1) 测量范围:5~25cm

(2) 测量误差:穗长误差:±1%

小穗数误差:≤3个

3. 小麦夹角

(1) 测量范围:0-180°

(2) 测量误差:±1°

4. 作物茎粗

(1) 测量范围:0-8cm

(2) 测量误差:±1mm

5. 千粒重

(1) 测量范围:0-300g

(2) 测量误差:±2%

6. 株高

(1) 测量范围:5-260cm

(2) 测量误差:±1mm







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