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型号:YP-XM

小麦表型测量仪

描述:小麦表型测量仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2024-06-04
  • 访问量

    466
详细介绍
品牌优云谱产地类别国产

优云谱小麦表型测量仪

小麦育种研究中,小麦表型参数至关重要,小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体,一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。

优云谱小麦表型测量仪应用广泛:

1、小麦亩穗数检测合适时期: 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。

2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期:

3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。

4、千粒重测量时期: 室内考种时期。

5、小麦株高测量时期: 各个生育时期。

三、技术参数:

测量范围和误差: 

1、小麦亩穗数测量误差: ≤±5%。 

2、麦穗形态测量范围:   5~20cm。

穗长误差:      ±2%。 

小穗数误差:    ≤ 3个。 

3、小麦夹角测量范围:   0-180°。   

作物粗:        0-5.2cm。 

夹角测量误差:  +5%。 

4、作物茎粗测量误差:   ±1%。 

5、千粒重测量误差:     ±2%。 

6、株高测量范围:       0.1-1.1m。 

测量误差:      ±1%。 





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